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KSX-3000H 太陽電池セル検査システムは、以下の高性能コンポーネントで構成されます：

    - KSS-P001 パルス式ソーラシミュレータ/ランプ電源
    - KST-P15HC I-V テスター
    - KSJ-026 セルセッター
    - KSM シリーズプローブバー

注：より正確な測定のために、チラーと真空ポンプがオプションで提供されています。

KSX-3000Hの光源は、下図に示すように極めて高精度に制御されています。 KSXシリーズでは、光の変動を±0.1% 程度に抑えているため、測定に大きく影響することはありません。パルス発光は、50 msの単一パルス、あるいは測定の都合により2段階、3段階のパルスとすることが可能です。量産ラインのセル分類では通常0.2%の効率で分類することが要求され、光の安定性は非常に重要となります。

 

光の安定性

KSX-3000Hが採用している高性能 I-V テスターは構成が非常にシンプルです。光源の安定性が極めて高いため、補償や調整も不要です。 電源がショートからオープンあるいはオープンからショートに掃引します。掃引電圧はセルの容量の影響を避けるために、セルの位置ではなく、電源の出力でモニターします。正確なI-Vデータはセルの位置で電圧と電流が同時に測定されます。

4象限の機能を使って、このシステムは暗電流とVocを正確に測定することができます。

 

ダイナミックなI-V測定

KSX-1000に使われる標準のI-V計測システムをベースにKSX-3000HはKOPEL Methodと呼ばれる革新的なテスト方式を採用しています。下図の左のグラフにHIT®を高速I-Vテスターで検査した場合の通常の動作を示します。容量が大きいため、電圧上昇時に電流が追随しません。逆方向ではセル容量に蓄えられた電子が放出されるため電流はオーバーシュートします。測定がゆっくりならこの効果は起こりません。 下図の右のグラフにKOPEL Methodの測定を示します。この方式はセルの暗状態、光照射下のI-Vデータを使用し、50 msのパルスでHIT®を測定します。I-Vデータは定常光下で1000 msと十分長い時間で測定したI-Vデータと非常に良く一致しています。KOPEL Methodは産総研との共同開発の成果で、現在特許申請中です。